本文围绕层绞式带状光缆在制造环节中频繁出现的衰减异常现象，从核心光单元至成缆终端的完整工艺链出发，系统梳理了各环节的关键影响因素。研究表明：光纤带的几何精度及其抗微弯能力构成衰减控制的根本前提；松套环节中套管占空比的合理设计与光纤带余长的精准把控，是决定衰减性能的核心工艺节点——余长偏大或偏小均会直接导致微弯或宏弯损耗的产生；而绞合与护套工序则通过放线张力、盘具内径等参数间接影响缆芯应力分布与弯曲状态，对衰减产生间接或暂态性作用。本文以松套工序为研究重心，深入揭示了余长失控的内在机理，并从冷却工艺优化、牵引张力精确控制、放带张力实时监控及设备同心度定期校核四个维度提出了针对性改进方案，旨在从源头稳定余长、降低局部应力，切实防控带状光缆衰减异常风险。该研究可为带状光缆工艺稳定性与产品可靠性的提升提供系统性的理论支撑与工程参考。